高温老化试验房，是针对高性能电子产品（如：计算机整机，显示器，终端机，车用电子产品，电源供应器，主机板、监视器、交换式充电器，各种工业设备等）仿真出一种高温环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备，各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于工业设备、电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。

本老化试验房采用组合拼装式库板结构，模块化设计，根据不同的要求配置壳体系统、主电系统、控制系统、加热系统、温度控制系统、进排风系统、时间控制系统等，通过此测试程序可检查出不良品或

高温老化试验房，是针对高性能电子产品（如：计算机整机，显示器，终端机，车用电子产品，电源供应器，主机板、监视器、交换式充电器，各种工业设备等）仿真出一种高温环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备，各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于工业设备、电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。

1. GB2423.2-2001   试验B：高温试验方法。

2.GJB360.8-87(MIL-STD-202F)  高温寿命试验。

 内箱尺寸： 2000×3000×2000(W×D×H)mm (可定制)

 内箱容积： 12m3

 温度范围： RT+10℃～+80℃

 冷却方式： 风冷自然对流

 结构方式： 试验室体采用组合拼装式库板结构,模块化设计

 温度偏差： ≤±2℃（空载时）

 升温速率： ≥2℃/min